半導体のフォトルミネッセンス（PL）を測定する装置です。半導体に光を照射することで、電子と正孔が生成され、それがまた再結合することで、バンドギャップに対応したエネルギーの光が発生します。この光を分光装置によりスペクトルとして得ることで、半導体の特性を評価することが可能です。本装置は特に、微細な半導体発光デバイスの評価のために、顕微鏡によって励起レーザーを局所領域に絞ることができるため、デバイスの特定領域の発光特性を評価することが可能です。光ディテクターは近赤外領域であり、光通信に重要な1.55μm帯の発光素子の評価に優れています。